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SOI新结构——SOI研究的新方向

文献类型:期刊论文

作者谢欣云 ; 林青 ; 门传玲 ; 安正华 ; 张苗 ; 林成鲁
刊名物理
出版日期2002
期号04
ISSN号0379-4148
中文摘要SOI(silicon on insulator :绝缘体上单晶硅薄膜 )技术已取得了突破性的进展 ,但一般SOI结构是以SiO2 作为绝缘埋层 ,以硅作为顶层的半导体材料 ,这样导致了一些不利的影响 ,限制了其应用范围 .为解决这些问题和满足一些特殊器件 电路的要求 ,探索研究新的SOI结构成为SOI研究领域新的热点 .如SOIM ,GPSOI,GeSiOI,SionAlN ,SiCOI,GeSiOI ,SSOI等 .文章将结合作者的部分工作 ,报道SOI新结构研究的新动向及其应用 .
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49801]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
谢欣云,林青,门传玲,等. SOI新结构——SOI研究的新方向[J]. 物理,2002(04).
APA 谢欣云,林青,门传玲,安正华,张苗,&林成鲁.(2002).SOI新结构——SOI研究的新方向.物理(04).
MLA 谢欣云,et al."SOI新结构——SOI研究的新方向".物理 .04(2002).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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