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SOI的自加热效应与SOI新结构的研究

文献类型:期刊论文

作者林青 ; 谢欣云 ; 朱鸣 ; 张苗 ; 林成鲁
刊名功能材料与器件学报
出版日期2002
期号02
ISSN号1007-4252
中文摘要阐述了自加热效应产生的原因以及它对SOI电路的影响,并介绍了为克服自加热效应和满足某些特殊器件和电路的要求,国内外正在竞相探索研究的新型SOI结构,如SOIM、SilicononAlN、GPSOI、SiCOI、GeSiOI、SON、SSOI等。结合SOI新结构制备工作,报道了SOI的自加热效应及其新结构的研究进展。
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49811]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
林青,谢欣云,朱鸣,等. SOI的自加热效应与SOI新结构的研究[J]. 功能材料与器件学报,2002(02).
APA 林青,谢欣云,朱鸣,张苗,&林成鲁.(2002).SOI的自加热效应与SOI新结构的研究.功能材料与器件学报(02).
MLA 林青,et al."SOI的自加热效应与SOI新结构的研究".功能材料与器件学报 .02(2002).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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