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DSOI,SOI和体硅MOSFET的特性测量比较

文献类型:期刊论文

作者林羲 ; 董业民 ; 何平 ; 陈猛 ; 王曦 ; 田立林 ; 李志坚
刊名清华大学学报(自然科学版)
出版日期2003
期号07
关键词含钙添加剂 MH-Ni电池 Ni(OH)2利用率 高温性能 循环性能
ISSN号1000-0054
中文摘要严重的自热效应和浮体效应是绝缘体上硅(SOI)器件的主要缺点。绝缘体上漏源(DSOI)结构的提出就是为了抑制SOI器件中的这两种效应。为了实现DSOI器件结构并且研究DSOI器件的特性,和SOI器件与体硅器件进行对比,采用新型的局域注氧工艺成功地在同一管芯上制作了DSOI、体硅和SOI3种结构的器件。通过对3种结构器件的电学特性和热学特性的测量比较,证明了DSOI器件成功地抑制了浮体效应,并且大大降低了自热效应。由于DSOI器件漏、源区下方埋氧层的存在,在消除了SOI器件严重的自热效应和浮体效应的同时,保
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49923]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
林羲,董业民,何平,等. DSOI,SOI和体硅MOSFET的特性测量比较[J]. 清华大学学报(自然科学版),2003(07).
APA 林羲.,董业民.,何平.,陈猛.,王曦.,...&李志坚.(2003).DSOI,SOI和体硅MOSFET的特性测量比较.清华大学学报(自然科学版)(07).
MLA 林羲,et al."DSOI,SOI和体硅MOSFET的特性测量比较".清华大学学报(自然科学版) .07(2003).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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