准分子脉冲激光沉积法制备的ZrO_2薄膜结构和电学性能的研究
文献类型:期刊论文
作者 | 章宁琳 ; 宋志棠 ; 邢溯 ; 万青 ; 林成鲁 |
刊名 | 中国激光
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出版日期 | 2003 |
期号 | 04 |
关键词 | 微针 药物传输 基因传输 微电子机械系统 |
ISSN号 | 0258-7025 |
中文摘要 | 采用准分子脉冲激光沉积法 (PLD)分别在Pt/Ti/SiO2 /Si和SiO2 /Si衬底上制备了ZrO2 薄膜 ,采用扩展电阻法 (SRP)研究了薄膜纵向电阻分布 ;采用X射线衍射法 (XRD)研究了衬底温度对ZrO2 薄膜结晶性能的影响 ;精确测试了薄膜的表面粗糙度 ;讨论了薄膜结晶性能与其电学I V特性之间的关系。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-01-06 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50087] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 章宁琳,宋志棠,邢溯,等. 准分子脉冲激光沉积法制备的ZrO_2薄膜结构和电学性能的研究[J]. 中国激光,2003(04). |
APA | 章宁琳,宋志棠,邢溯,万青,&林成鲁.(2003).准分子脉冲激光沉积法制备的ZrO_2薄膜结构和电学性能的研究.中国激光(04). |
MLA | 章宁琳,et al."准分子脉冲激光沉积法制备的ZrO_2薄膜结构和电学性能的研究".中国激光 .04(2003). |
入库方式: OAI收割
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