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功能碳薄膜化学键成分的椭偏光谱研究

文献类型:期刊论文

作者莫党 ; 李芳 ; 陈第虎 ; 郭扬铭 ; 魏爱香
刊名功能材料
出版日期2003
期号05
关键词压阻式传感器 温度漂移 温度补偿
ISSN号1001-9731
中文摘要用磁过滤真空离子溅射系统,改变加在单晶Si(100)衬底上的衬底偏压,制备不同sp3C键与sp2C键比例的碳薄膜样品。测量了2.0~5.0eV光子能量范围内各个碳薄膜样品的椭偏光谱。发现该谱与碳薄膜中的sp键比例有明显的关系。我们提出一种较简便的分析解谱方法,分析所测得的各个椭偏光谱,半定量地确定各碳薄膜样品的sp3C键与sp2C键比例。所得结果还与同类样品的拉曼光谱与吸收光谱测量结果相比较,结果基本上是一致的。研究结果表明椭偏光谱方法可以发展成一种较简便的、对样品无损伤的测定功能碳薄膜中的sp3C键成
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50101]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
莫党,李芳,陈第虎,等. 功能碳薄膜化学键成分的椭偏光谱研究[J]. 功能材料,2003(05).
APA 莫党,李芳,陈第虎,郭扬铭,&魏爱香.(2003).功能碳薄膜化学键成分的椭偏光谱研究.功能材料(05).
MLA 莫党,et al."功能碳薄膜化学键成分的椭偏光谱研究".功能材料 .05(2003).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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