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在SOI材料上制备高质量的氧化铪薄膜

文献类型:期刊论文

作者邢玉梅 ; 陶凯 ; 俞跃辉 ; 郑志宏 ; 杨文伟 ; 宋朝瑞 ; 沈达身
刊名功能材料
出版日期2004
期号06
关键词CDMA LTJ 格型滤波器 LMS 窄带干扰抑制 自适应非线性滤波器
ISSN号1001-9731
中文摘要用电子束蒸发氧化铪靶的方法,在SOI(绝缘体上硅)材料上制备了氧化铪薄膜,随后在氮气中进行快速退火(600℃,300s)。借助掠角X射线衍射(GAXRD)、X射线光电子能谱(XPS)、高分辨透射电镜(HRTEM)技术分析了样品的微观结构,研究了样品在退火前后发生的组成及结构变化,结果表明退火后氧化铪薄膜由退火前的非晶态转变为单斜结构的多晶态,薄膜中的O/Hf原子比较退火前更接近化学计量比2。借助扩展电阻探针(SRP)技术考察了退火前后薄膜的电学性能,证明在SOI材料上制备的多晶氧化铪薄膜同样具有较好的电
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50154]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
邢玉梅,陶凯,俞跃辉,等. 在SOI材料上制备高质量的氧化铪薄膜[J]. 功能材料,2004(06).
APA 邢玉梅.,陶凯.,俞跃辉.,郑志宏.,杨文伟.,...&沈达身.(2004).在SOI材料上制备高质量的氧化铪薄膜.功能材料(06).
MLA 邢玉梅,et al."在SOI材料上制备高质量的氧化铪薄膜".功能材料 .06(2004).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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