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灌封对高量程微机械加速度计封装的影响

文献类型:期刊论文

作者蒋玉齐 ; 杜茂华 ; 罗乐
刊名机械强度
出版日期2004
期号02
关键词光电探测器 暗电流 InGaAs 化合物半导体
ISSN号1001-9669
中文摘要灌封是高量程微机械加速度计实用化的一个关键步骤。文中根据自制的一种压阻式高量程micro electro me chanicalsystem(MEMS)加速度计芯片及一种实用的封装结构 ,对其有限元模型进行模态分析和高g值加速度载荷下的响应分析。封装结构的模态频率随着灌封胶弹性模量的增大而增大。但弹性模量过小时 ,模态频率反而比未灌封时低 ,可能会干扰输出信号。对器件加载 10万g加速度表明 ,器件的模拟输出电压值随着灌封胶弹性模量或密度的增加而缓慢减小。模拟输出电压值与解析解很接近。封装之后传感器的模拟
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50274]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
蒋玉齐,杜茂华,罗乐. 灌封对高量程微机械加速度计封装的影响[J]. 机械强度,2004(02).
APA 蒋玉齐,杜茂华,&罗乐.(2004).灌封对高量程微机械加速度计封装的影响.机械强度(02).
MLA 蒋玉齐,et al."灌封对高量程微机械加速度计封装的影响".机械强度 .02(2004).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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