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MEMS悬臂式开关的失效分析

文献类型:期刊论文

作者徐欣 ; 郭方敏 ; 葛羽屏 ; 李成诗 ; 于绍欣 ; 朱荣锦 ; 赖宗声 ; 朱自强 ; 王跃林 ; 陆卫
刊名传感技术学报
出版日期2004
期号03
关键词霍尔效应 磁传感器 不等位电势
ISSN号1004-1699
中文摘要介绍了一种表面微机械系统开关 ,悬臂材料为Au SiOxNy Au铬金作为电欧姆接触。用静电激励 (激励电压为 1 3V)方式 ,测试其隔离度。获得结果为微机械开关在 1~ 4 0GHz的范围内隔离度可高达 35dB。我们采用对开关施加激励方波脉冲的方法测试寿命。结果寿命接近 1 0 5,应用ANSYS对几种不同的MEMS射频接触悬臂开关模型进行了力电耦合分析和失效机理。
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50291]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
徐欣,郭方敏,葛羽屏,等. MEMS悬臂式开关的失效分析[J]. 传感技术学报,2004(03).
APA 徐欣.,郭方敏.,葛羽屏.,李成诗.,于绍欣.,...&陆卫.(2004).MEMS悬臂式开关的失效分析.传感技术学报(03).
MLA 徐欣,et al."MEMS悬臂式开关的失效分析".传感技术学报 .03(2004).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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