控制处理系统抗辐射容错
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈光重 ; 李东 |
| 刊名 | 电子测量技术
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 04 |
| 关键词 | DSP DPSK 差分检测 数字解调器 |
| ISSN号 | 1002-7300 |
| 中文摘要 | 文中针对解决辐射环境中的单粒子翻转威胁,着重探讨采用硬件冗余的容错设计方法,提高控制处理系统的可靠性。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50467]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈光重,李东. 控制处理系统抗辐射容错[J]. 电子测量技术,2005(04). |
| APA | 陈光重,&李东.(2005).控制处理系统抗辐射容错.电子测量技术(04). |
| MLA | 陈光重,et al."控制处理系统抗辐射容错".电子测量技术 .04(2005). |
入库方式： OAI收割
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