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Ag-SiO_2多层薄膜对光子带隙的影响(英文)

文献类型:期刊论文

作者宋志棠 ; 陈苏 ; 汪扬 ; 封松林
刊名光子学报
出版日期2005
期号11
关键词SOG 阳极键合 智能剥离 薄层转移
ISSN号1004-4213
中文摘要采用超高真空电子束蒸发制备了一维紫外、可见光波段光子晶体.研究了在石英衬底上不同周期Ag/SiO2体系对光子带隙的影响.带隙位置与理论计算结果符合.发现二氧化硅层的厚度对带隙位置和银层的透过率有较大影响,厚度的增加降低了反射率,从而使光子带隙更加明显,当厚度达到12层时观察到清晰的光子带隙.
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50470]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
宋志棠,陈苏,汪扬,等. Ag-SiO_2多层薄膜对光子带隙的影响(英文)[J]. 光子学报,2005(11).
APA 宋志棠,陈苏,汪扬,&封松林.(2005).Ag-SiO_2多层薄膜对光子带隙的影响(英文).光子学报(11).
MLA 宋志棠,et al."Ag-SiO_2多层薄膜对光子带隙的影响(英文)".光子学报 .11(2005).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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