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SnAgCu(SnPb)/Ni和SnAgCu(SnPb)/Cu界面金属间化合物在热冲击过程中的生长规律

文献类型:期刊论文

作者常俊玲 ; 刘晓庆 ; 谢晓明
刊名功能材料与器件学报
出版日期2005
期号04
关键词AB5型储氢合金 高倍率放电性能 低温放电性能 微结构 高功率Ni/MH电池
ISSN号1007-4252
中文摘要通过对SnAgCu(SnPb)/N i和SnAgCu(SnPb)/Cu界面热冲击过程中金属间化合物(Interme-tallic compound,IMC)生长规律的研究,以期更好的了解SnAgCu无铅焊料与N i或Cu金属化层的相互匹配。结果表明固溶在焊料中的Cu或者N i影响热冲击过程中界面IMC的演化。采用N iAu镀层时,IMC的生长速率比HASL(HotA ir Solder Level)镀层慢,并且界面没有K irkendall孔洞生成,所以有更好的长期可靠性。采用SnAgCu焊料时,界面K
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50474]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
常俊玲,刘晓庆,谢晓明. SnAgCu(SnPb)/Ni和SnAgCu(SnPb)/Cu界面金属间化合物在热冲击过程中的生长规律[J]. 功能材料与器件学报,2005(04).
APA 常俊玲,刘晓庆,&谢晓明.(2005).SnAgCu(SnPb)/Ni和SnAgCu(SnPb)/Cu界面金属间化合物在热冲击过程中的生长规律.功能材料与器件学报(04).
MLA 常俊玲,et al."SnAgCu(SnPb)/Ni和SnAgCu(SnPb)/Cu界面金属间化合物在热冲击过程中的生长规律".功能材料与器件学报 .04(2005).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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