灌封胶封装对高量程MEMS加速度计动态性能的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 蒋玉齐 ; 程迎军 ; 张鲲 ; 李昕欣 ; 罗乐 |
| 刊名 | 半导体学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 06 |
| 关键词 | 图形化SOI LDMOSFET 浮体效应 自加热效应 |
| ISSN号 | 0253-4177 |
| 中文摘要 | 利用有限元模拟方法,对一种压阻式高量程MEMS加速度计进行了10万g峰值的半正弦加速度脉冲下的响应分析.灌封胶弹性模量的变化对高量程加速度计输出电压信号的影响可以忽略,且模拟输出电压的峰值与解析解接近.应力分析表明,芯片粘结胶、芯片与芯片盖板之间封接胶环的等效应力均随灌封胶弹性模量的增加而减小;弹性模量在4GPa以上的灌封胶适宜用来保护芯片.动态有限元模拟结果与自由落杆测试结果接近. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50492]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蒋玉齐,程迎军,张鲲,等. 灌封胶封装对高量程MEMS加速度计动态性能的影响[J]. 半导体学报,2005(06). |
| APA | 蒋玉齐,程迎军,张鲲,李昕欣,&罗乐.(2005).灌封胶封装对高量程MEMS加速度计动态性能的影响.半导体学报(06). |
| MLA | 蒋玉齐,et al."灌封胶封装对高量程MEMS加速度计动态性能的影响".半导体学报 .06(2005). |
入库方式： OAI收割
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