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直接键合InP-GaAs结构界面的特性研究

文献类型:期刊论文

作者劳燕锋 ; 吴惠桢
刊名物理学报
出版日期2005
期号09
关键词微机械陀螺 等效电路模型 模拟
ISSN号1000-3290
中文摘要通过对直接键合InPGaAs结构的红外吸收光谱分析以及断面扫描电子显微镜观察发现,样品制备过程中不均匀的外加压强导致InPGaAs交界面局部出现了不连续过渡的空间层,实验上将熔融石蜡渗透并被填充到该空间层,利用其对3.509μm波长光的强烈吸收特性可表征这种局部的键合不连续区域,二维扫描测试样品不同区域的吸收谱得到3.509μm波长吸收强度等值线图,从而描绘出外加压强的不均匀分布.实验上通过改进键合装置的施压均匀性,得到了连续过渡界面且均匀键合的InPGaAs结构,利用这种均匀键合技术有望制备大尺寸器件例
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50617]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
劳燕锋,吴惠桢. 直接键合InP-GaAs结构界面的特性研究[J]. 物理学报,2005(09).
APA 劳燕锋,&吴惠桢.(2005).直接键合InP-GaAs结构界面的特性研究.物理学报(09).
MLA 劳燕锋,et al."直接键合InP-GaAs结构界面的特性研究".物理学报 .09(2005).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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