超高速相位量化ADC的表征与测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张有涛 ; 夏冠群 ; 李拂晓 ; 高建峰 ; 杨乃彬 |
| 刊名 | 微电子学与计算机
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 02 |
| ISSN号 | 1000-7180 |
| 中文摘要 | 文章详细分析并讨论了应用于相位体制DRFM的ADC参数表征及测试方法。提出用相位非线性(PDNL和PINL)来描述相位体制ADC的静态性能,用瞬时工作带宽(IBW)及相位精度随频率的变化来描述相位ADC的频域性能。采用上述方法对利用南京电子器件研究所标准3"GaAsMESFET全离子注入工艺流片得到的3bit相位体制ADC进行了性能表征及测试,结果表明其静态PDNL≤0.01LSB,PDNL≤±0.007LSB;电路可在2GHz时钟下完成采样、量化,达到2Gbps的转换速率,其瞬时带宽可达250MHz,带 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50636]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张有涛,夏冠群,李拂晓,等. 超高速相位量化ADC的表征与测试[J]. 微电子学与计算机,2005(02). |
| APA | 张有涛,夏冠群,李拂晓,高建峰,&杨乃彬.(2005).超高速相位量化ADC的表征与测试.微电子学与计算机(02). |
| MLA | 张有涛,et al."超高速相位量化ADC的表征与测试".微电子学与计算机 .02(2005). |
入库方式： OAI收割
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