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基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺

文献类型:期刊论文

作者王文辉 ; 唐衍哲 ; 戈肖鸿 ; 吴亚明 ; 杨建义 ; 王跃林
刊名半导体学报
出版日期2005
期号01
关键词栅发射 C薄膜 Hf薄膜 BaO
ISSN号0253-4177
中文摘要研究了基于绝缘材料上的硅 (SOI)材料的平面波导刻蚀光栅分波器的主要制作工艺 .利用电感耦合等离子体刻蚀 (ICP)技术 ,在SOI材料上制作了垂直度大于 89°的光滑的光栅槽面 .氧化抛光后刻蚀侧壁的表面均方根粗糙度 (RMS)有 3nm的改善 ,达到 7 2 7nm(采样面积 6 2 μm× 2 6 μm) .通过采用集成波导拐弯微镜代替弯曲波导使 1× 4分波器的器件尺寸仅为 2 0mm× 2 5mm .测试结果表明器件实现了分波功能
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50705]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
王文辉,唐衍哲,戈肖鸿,等. 基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺[J]. 半导体学报,2005(01).
APA 王文辉,唐衍哲,戈肖鸿,吴亚明,杨建义,&王跃林.(2005).基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺.半导体学报(01).
MLA 王文辉,et al."基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺".半导体学报 .01(2005).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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