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基于多模干涉耦合器的集成热光开关实验研究

文献类型:期刊论文

作者万助军 ; 吴亚明 ; 李四华
刊名光学学报
出版日期2006
期号08
关键词微喷 非接触式喷点技术 微阵列
ISSN号0253-2239
中文摘要报道了一种基于多模干涉(MMI)耦合器的马赫曾德尔干涉仪(MZI)型2×2集成热光开关的实验研究结果,插损为3.40 dB,偏振相关损耗为0.47 dB,直通和交叉状态消光比分别为32.01 dB和16.42 dB,响应时间小于3 ms,开关功耗为658 mW。针对直通和交叉状态消光比不对称的现象,从理论上做出了解释,因为半导体平面光波电路(PLC)工艺一致性较好,两个多模干涉耦合器的分光比虽然因工艺误差偏离50∶50,但误差量相近,这个特点对光开关直通和交叉状态的消光比产生了不同影响。分析了在波导上制作
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50848]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
万助军,吴亚明,李四华. 基于多模干涉耦合器的集成热光开关实验研究[J]. 光学学报,2006(08).
APA 万助军,吴亚明,&李四华.(2006).基于多模干涉耦合器的集成热光开关实验研究.光学学报(08).
MLA 万助军,et al."基于多模干涉耦合器的集成热光开关实验研究".光学学报 .08(2006).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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