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不同材料上共面波导线的损耗研究

文献类型:期刊论文

作者单伟国 ; 骆苏华 ; 杨中海 ; 李凌云 ; 孙晓玮
刊名固体电子学研究与进展
出版日期2006
期号03
关键词分子动力学 有限元 连续介质近似 谐振频率
ISSN号1000-3819
中文摘要研究不同衬底材料上共面波导(CPW)线的损耗特性。实验结果表明,采用低阻SOI(20Ω·cm)作衬底制作的共面波导线的损耗比在低阻硅(20Ω·cm)上制作的有明显减少;而采用低阻硅,并沉积1μmSiO2作衬底的CPW线损耗大大降低。采用高阻SOI(1000Ω·cm)制备的CPW线在2GHz损耗仅为0.13dB/mm;通过在低阻硅上采用地屏蔽技术也可以有效地改善传输线的损耗特性,在整个频段内的损耗可与高阻SOI硅衬底上相比拟。
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50858]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
单伟国,骆苏华,杨中海,等. 不同材料上共面波导线的损耗研究[J]. 固体电子学研究与进展,2006(03).
APA 单伟国,骆苏华,杨中海,李凌云,&孙晓玮.(2006).不同材料上共面波导线的损耗研究.固体电子学研究与进展(03).
MLA 单伟国,et al."不同材料上共面波导线的损耗研究".固体电子学研究与进展 .03(2006).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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