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脉冲激光沉积氮化铝薄膜的电学性能研究

文献类型:期刊论文

作者门传玲 ; 林成鲁
刊名功能材料与器件学报
出版日期2006
期号04
关键词卫星 星载计算机 硬件 软件
ISSN号1007-4252
中文摘要采用脉冲激光沉积(PLD)技术在硅片上合成了A lN薄膜。X射线衍射(XRD)结果证实制备的A lN薄膜具有(002)择优取向的六方纤锌矿晶体结构,并且结晶质量随Si衬底温度的提高而改善。电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)、极化曲线结果表明室温生长的A lN薄膜的击穿场强约2.5MV/cm,同时呈现明显的极化现象(类铁电),对应矫顽场强为150kV/cm,剩余极化为0.002C/m2。晶态A lN存在较强的自发极化,薄膜中可动电荷密度高,据此提出了动态电荷模型,指出较大的A lN薄膜极化回线是由于
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50876]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
门传玲,林成鲁. 脉冲激光沉积氮化铝薄膜的电学性能研究[J]. 功能材料与器件学报,2006(04).
APA 门传玲,&林成鲁.(2006).脉冲激光沉积氮化铝薄膜的电学性能研究.功能材料与器件学报(04).
MLA 门传玲,et al."脉冲激光沉积氮化铝薄膜的电学性能研究".功能材料与器件学报 .04(2006).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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