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TiN薄膜的循环制备和电学性质

文献类型:期刊论文

作者易万兵 ; 张文杰 ; 吴瑾 ; 邹世昌
刊名材料研究学报
出版日期2006
期号02
关键词图形化SOI LDMOSFET 功率放大器 基站
ISSN号1005-3093
中文摘要用金属有机物化学气相淀积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition,MOCVD)制备了 TiN 薄膜,通过不同循环制备的、厚度相同的平面薄膜电阻率的比较研究了 TiN 薄膜的电学性质.结果表明,多次循环会引入界面而增大电阻率, 与薄膜成分和微结构分析的结果一致.得到了单循环的最优厚度以使样品电阻率最低.通过相同循环、不同厚度样品在真实器件中电学性能的比较,发现介窗(Via)直径越小,TiN 薄膜对介窗电阻的影响越大.
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50972]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
易万兵,张文杰,吴瑾,等. TiN薄膜的循环制备和电学性质[J]. 材料研究学报,2006(02).
APA 易万兵,张文杰,吴瑾,&邹世昌.(2006).TiN薄膜的循环制备和电学性质.材料研究学报(02).
MLA 易万兵,et al."TiN薄膜的循环制备和电学性质".材料研究学报 .02(2006).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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