微流控芯片免疫分析技术及其研究进展
文献类型：期刊论文
| 作者 | 潘爱平 ; 金庆辉 ; 王惠民 ; 赵建龙 |
| 刊名 | 检验医学
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| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 04 |
| 关键词 | 无线传感网 MIMO 虚拟MIMO 能量有效性 |
| ISSN号 | 1673-8640 |
| 中文摘要 | 实验表明SOI MOSFET掩埋氧化层中的总剂量辐射效应与辐射过程中的偏置状态有关.对诱发背沟道泄漏电流的陷阱电荷进行了研究.建立一个数值模型来模拟不同偏置下陷进电荷的建立,它包括辐射产生的载流子复合和俘获的过程.模拟结果与实验结果相符,解释了总剂量辐射效应受偏置状态影响的机理. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51159]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 潘爱平,金庆辉,王惠民,等. 微流控芯片免疫分析技术及其研究进展[J]. 检验医学,2007(04). |
| APA | 潘爱平,金庆辉,王惠民,&赵建龙.(2007).微流控芯片免疫分析技术及其研究进展.检验医学(04). |
| MLA | 潘爱平,et al."微流控芯片免疫分析技术及其研究进展".检验医学 .04(2007). |
入库方式： OAI收割
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