相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善
文献类型：期刊论文
| 作者 | 梁爽 ; 宋志棠 ; 刘波 ; 陈小刚 ; 封松林 |
| 刊名 | 计算机测量与控制
 |
| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 10 |
| 关键词 | 倒装芯片 金球凸点 引线键合 |
| ISSN号 | 1671-4598 |
| 中文摘要 | 相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单片机通信控制继电器和利用PCI控制卡控制继电器两个方面提出了解决方案,并进行了相应的硬件电路和软件设计;结果发现非晶化操作时脉冲信号下降速度加快,并且消除了信号的失真;改善后的测试系统对器件一致性的参数的提取发挥了重要作用,为芯片的电路设计奠定了基 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51175]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 梁爽,宋志棠,刘波,等. 相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善[J]. 计算机测量与控制,2007(10). |
| APA | 梁爽,宋志棠,刘波,陈小刚,&封松林.(2007).相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善.计算机测量与控制(10). |
| MLA | 梁爽,et al."相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善".计算机测量与控制 .10(2007). |
入库方式： OAI收割
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