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相变随机存储器材料与结构设计最新进展

文献类型:期刊论文

作者刘波 ; 宋志棠 ; 封松林
刊名半导体技术
出版日期2008
期号09
关键词锂离子蓄电池 红外成像 高倍率放电
ISSN号1003-353X
中文摘要介绍了相变随机存储器(PCRAM)的研究现状,包括新型相变材料、热阻层材料和器件结构等。分析了GeSb和SiSb等相变材料具有组分简单、数据保持力好、优良的存储性能等特点,介绍了PCRAM这一新型半导体存储器的基本原理、特点以及国内外有关相变材料、过渡层材料和器件结构设计等方面的研究进展,最后提出了我国发展PCRAM的几点思考。
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51485]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘波,宋志棠,封松林. 相变随机存储器材料与结构设计最新进展[J]. 半导体技术,2008(09).
APA 刘波,宋志棠,&封松林.(2008).相变随机存储器材料与结构设计最新进展.半导体技术(09).
MLA 刘波,et al."相变随机存储器材料与结构设计最新进展".半导体技术 .09(2008).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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