片上逻辑分析仪的设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张小林 ; 姜大力 ; 李华旺 ; 杨根庆 |
| 刊名 | 计算机测量与控制
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| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 03 |
| 关键词 | 电子电镀 化学镀金 硼氢化钾 二甲胺硼烷 镀速 |
| ISSN号 | 1671-4598 |
| 中文摘要 | 提出了一种用在FPGA上实现的片上逻辑分析仪的设计方案;随着FPGA的规模的增大,在其内部可以实现复杂的SoC设计,但是I/O端口数量有限,采用VHDL设计,可以在源代码级插入到设计中,这也使得它与FPGA的器件类型和开发软件保持独立,它可以对FPGA内部的任何信号和复杂的事件进行追踪,采样的结果保存在通过片上的同步RAM实现的循环跟踪缓存区,通过AMBAAPB总线接口完成对触发引擎控制和缓存区的读写;这种实现方案的逻辑分析仪占用资源小,可以达到的频率高,可广泛应用到基于AMBA总线的SoC设计中;最后, |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51565]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张小林,姜大力,李华旺,等. 片上逻辑分析仪的设计[J]. 计算机测量与控制,2008(03). |
| APA | 张小林,姜大力,李华旺,&杨根庆.(2008).片上逻辑分析仪的设计.计算机测量与控制(03). |
| MLA | 张小林,et al."片上逻辑分析仪的设计".计算机测量与控制 .03(2008). |
入库方式： OAI收割
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