密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 程国峰 ; 杨传铮 ; 黄月鸿 |
| 刊名 | 无机材料学报
 |
| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 01 |
| 关键词 | InGaAs 波长扩展 光伏探测器 量子效率 |
| ISSN号 | 1000-324X |
| 中文摘要 | X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hkO、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51665]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程国峰,杨传铮,黄月鸿. 密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究[J]. 无机材料学报,2008(01). |
| APA | 程国峰,杨传铮,&黄月鸿.(2008).密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究.无机材料学报(01). |
| MLA | 程国峰,et al."密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究".无机材料学报 .01(2008). |
入库方式： OAI收割
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