X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨传铮 ; 张建 |
| 刊名 | 物理学进展
 |
| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 03 |
| 关键词 | 集成天线 非接触式IC卡 CMOS |
| ISSN号 | 1000-0542 |
| 中文摘要 | 本文在简单评叙过去常用于金属材料中晶粒(嵌镶块)大小和微观应变的X射线衍射线形分析方法(分离微晶—微应变二重宽化效应的Fourier分析、方差分析和近似函数三种方法)之后,介绍了作者及合作者近年来发展和建立的分离微晶—微应变、微晶—层错、微应变—层错二重宽化效应和分离微晶—微应力—层错三重宽化效应的一般理论、最小二乘方法和计算程序系列。然后把这些方法用于评价各种典型纳米材料微结构的研究。它们包括:(1)贮氢合金MmB5;(2)面心立方结构纳米NiO的分析,获得微结构参数与热分解温度的关系;(3)体心立方结 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51894]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨传铮,张建. X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展[J]. 物理学进展,2008(03). |
| APA | 杨传铮,&张建.(2008).X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展.物理学进展(03). |
| MLA | 杨传铮,et al."X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展".物理学进展 .03(2008). |
入库方式： OAI收割
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