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金属纳米晶的制备及其在MOS电容结构中的存储特性

文献类型:期刊论文

作者倪鹤南 ; 吴良才 ; 宋志棠 ; 惠春
刊名功能材料与器件学报
出版日期2009
期号03
关键词分布反馈量子级联激光器 高反射率腔面镀膜
ISSN号1007-4252
中文摘要优化了金属纳米晶的制备工艺参数,得到了分布均匀,形状为球形,平均尺寸8nm,密度2.5×1011/cm2的Ag纳米晶。在此基础上,制备了包含Ag纳米晶的MOS电容结构。利用高频电容-电压(C-V)和电导-电压(G-V)测试研究了其电学性能,证明该MOS电容结构的存储效应主要源于金属纳米晶的限制态。电容-时间(C-t)测试曲线呈指数衰减趋势,保留时间290s,具有较好的保留性能。
语种中文
公开日期2012-01-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51966]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
倪鹤南,吴良才,宋志棠,等. 金属纳米晶的制备及其在MOS电容结构中的存储特性[J]. 功能材料与器件学报,2009(03).
APA 倪鹤南,吴良才,宋志棠,&惠春.(2009).金属纳米晶的制备及其在MOS电容结构中的存储特性.功能材料与器件学报(03).
MLA 倪鹤南,et al."金属纳米晶的制备及其在MOS电容结构中的存储特性".功能材料与器件学报 .03(2009).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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