填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 程国峰 ; 杨传铮 ; 张健 |
| 刊名 | 分析测试学报
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| 出版日期 | 2009 |
| 期号 | 03 |
| 关键词 | 超声波检测 数据采集 系统设计 硬件系统 |
| ISSN号 | 1004-4957 |
| 中文摘要 | 从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果——峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响。结果表明,在对称反射几何情况下,金属及其合金样品填样深度效应可以忽略,填样深度在0.2～0.5mm范围内能满足无穷厚度要求;对于绝大多数有机样品填样深度应不小于1.5mm。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52225]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程国峰,杨传铮,张健. 填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究[J]. 分析测试学报,2009(03). |
| APA | 程国峰,杨传铮,&张健.(2009).填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究.分析测试学报(03). |
| MLA | 程国峰,et al."填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究".分析测试学报 .03(2009). |
入库方式： OAI收割
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