高温DC SQUID探针显微镜在半导体样品检测中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孔祥燕 ; 中谷悦起 ; 系崎秀夫 |
| 刊名 | 低温与超导
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| 出版日期 | 2010 |
| 期号 | 11 |
| 关键词 | 单粒子翻转 绝缘体上硅 模型 |
| ISSN号 | 1001-7100 |
| 中文摘要 | 扫描SQUID探针显微镜成像技术在半导体样品检测中得到了广泛应用。利用有限元分析方法对作为fluxguide的探针结构和SQUID的尺寸等参数对于系统空间分辨率和检测灵敏度的影响进行了仿真分析,并研究了探针周围的屏蔽效果。利用建立的SQUID探针显微镜系统成功检测到太阳能电池中多晶硅的细微结构,并通过检测互相垂直的两个方向的磁场,对太阳能电池中光致电流矢量分布进行了反演重构。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-01-06 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52353]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孔祥燕,中谷悦起,系崎秀夫. 高温DC SQUID探针显微镜在半导体样品检测中的应用[J]. 低温与超导,2010(11). |
| APA | 孔祥燕,中谷悦起,&系崎秀夫.(2010).高温DC SQUID探针显微镜在半导体样品检测中的应用.低温与超导(11). |
| MLA | 孔祥燕,et al."高温DC SQUID探针显微镜在半导体样品检测中的应用".低温与超导 .11(2010). |
入库方式： OAI收割
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