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以氮化铝为绝缘埋层的绝缘体上的硅材料制备方法

文献类型:专利

作者林成鲁 ; 张苗 ; 王连卫 ; 黄继颇 ; 多新中
发表日期1999
专利国别中国
专利号CN1227400
专利类型发明
权利人中国科学院上海冶金研究所
中文摘要本发明属于微电子学与固体电子学中新材料的制造工艺,具体地说是一种以AlN为绝缘埋层的绝缘体上的硅即SOl材料制备方法,系利用离子束合成或Al膜氮化的方法制备具有良好导热性能的AlN绝缘薄膜,并与、氢氦离子注入、硅片键合和智能剥离工艺相结合,制备以用AlN为绝缘埋层的SOl结构,这种SOl材料的导热性能优于常规的以SiO2为绝缘埋层的SOl,更加适应高温、大功率SOl电路的需要。
是否PCT专利
公开日期1999-09-01
申请日期1998-12-04
语种中文
专利申请号98122067.3
专利代理邬震中 ; 高毓秋
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52685]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_冶金所专利
推荐引用方式
GB/T 7714
林成鲁,张苗,王连卫,等. 以氮化铝为绝缘埋层的绝缘体上的硅材料制备方法. CN1227400. 1999-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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