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一种基因芯片的膜转印检测法

文献类型:专利

作者赵建龙 ; 景奉香 ; 孙悦 ; 张为 ; 毛红菊 ; 赵辉
发表日期2002
专利国别中国
专利号CN1330155
专利类型发明
权利人中国科学院上海冶金研究所
中文摘要一种基因芯片的膜转印检测法,在待检测样品的PCR扩增过程中,加入地高辛或生物素标记,然后将PCR产物与芯片进行杂交,杂交以后用抗体与地高辛或生物素标记结合,再用浸润了显色液的尼龙膜或硝酸纤维膜将杂交结果转印到膜上,使杂交信号强度大大提高,以提高检测灵敏度,可用一般的光学扫描仪检测杂交结果。
是否PCT专利
公开日期2002-01-09
申请日期2001-07-06
语种中文
专利申请号01113297.3
专利代理张泽纯
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52759]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_冶金所专利
推荐引用方式
GB/T 7714
赵建龙,景奉香,孙悦,等. 一种基因芯片的膜转印检测法. CN1330155. 2002-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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