工件形状测量装置
文献类型:专利
作者 | 李润身 |
发表日期 | 1995 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN2190279 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海冶金研究所 |
中文摘要 | 一种以光脉冲方法测量工件截面形状的测量装置,属于以采用光学方法为特征的,用于测量外形的计量设备。它包括脉冲计数电路。其特征是有一频率稳定的脉冲光源和光探测器组成的光学探头、光学探头位置调整和步进机构、标准图形板和工作台以及使光学探头相对于待测工件作扫描运动的运动系统。本实用新型最好的测量精度接近标准图形板的精度,可广泛用于机械零部件形状检测,特别适于测量平面工件形状进而给出与形状有关的其它参数。 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 1995-02-22 |
申请日期 | 1994-04-27 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 94238602.7 |
专利代理 | 季良赳 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52812] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_冶金所专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李润身. 工件形状测量装置. CN2190279. 1995-01-01. |
入库方式: OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。