在真空条件下光电倍增管性能测试的方法与装置
文献类型：专利
| 作者 | 宫一忠 ; 张仁健 ; 常进 ; 唐和森 ; 王楠森 ; 胡一鸣 ; 蔡明生 ; 马涛 ; 张南 ; 于敏 ; 毛建萍 |
| 发表日期 | 2011-11-16 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 200710023158 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院紫金山天文台 |
| 中文摘要 | 在真空条件下光电倍增管性能测试的方法:将圆筒形真空罐连接好真空系统;CSI晶体放入真空罐中;光电倍增管放在CSI晶体的端面上耦合好;光电倍增管与供电系统连接好;盖好密封顶盖抽真空;真空度达到要求时加电;在真空罐底部放置好137CS同位素放射源;探测器加电工作后,由前置放大器,主放大器将探测器输出的小脉冲信号放大并传输到多道分析器,得到能谱曲线。本发明装置主体为一圆筒形真空罐,盖板上面有电测试所需的电压转接件及放气阀,侧面有与真空系统连接的阀门。现有技术只能定性的测量光电倍增管的性能。本发明的方法及装置可定量的测量光电倍增管的增益及能量分辨率等性能,并能达到对所需光电倍增管优选的目的。 |
| 公开日期 | 2007-11-07 |
| 申请日期 | 2007-06-07 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 200710023158 |
| 专利代理 | 栗仲平 |
| 源URL | [http://libir.pmo.ac.cn/handle/332002/1377]  |
| 专题 | 紫金山天文台_中科院紫金山天文台专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宫一忠,张仁健,常进,等. 在真空条件下光电倍增管性能测试的方法与装置. 200710023158. 2011-11-16. |
入库方式： OAI收割
来源：紫金山天文台
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