粉末X射线衍射仪填样深度效应的研究
文献类型：会议论文
| 作者 | 程国峰 ; 杨传铮 ; 张健 |
| 出版日期 | 2009 |
| 会议名称 | 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 |
| 会议日期 | 2009 |
| 关键词 | 衍射几何分析 填样深度效应 吸收系数 末X射线衍射 |
| 中文摘要 | 本文对衍射几何分析、填样深度效应的实验研究和分析进行了介绍，指出通过对填样深度效应的理论分析和实验研究得出结论:对于吸收系数较大的金属及其合金样品，填样深度效应可以忽略，填样深度在0.2-0.5mm范围，足以满足无穷厚度要求。 |
| 会议网址 | http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199570.aspx |
| 会议录 | 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会论文集
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| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/55688]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程国峰,杨传铮,张健. 粉末X射线衍射仪填样深度效应的研究[C]. 见:第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会. 2009.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199570.aspx. |
入库方式： OAI收割
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