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聚合物锂离子电池高温贮存后性能衰退研究

文献类型:会议论文

作者黄海江 ; 解晶莹 ; 张宏 ; 喻献国
出版日期2004
会议名称第十二届中国固态离子学学术会议
会议日期2004
关键词聚合物锂离子电池 高温贮存 放电容量 内阻 电解液 SEI膜
中文摘要本文对商用聚合物锂离子电池分别在60-100℃贮存后的性能衰退进行了研究.搁置后的电池常温下不同倍率放电容量都小于搁置前容量,并且随着搁置温度升高,在高于80℃时衰减严重,而在低于80℃时衰减较轻.结合X射线衍射与扫描电镜实验以及对电池内阻、开路电压和膨胀率的测试结果,表明聚合物锂离子电池的性能衰减主要是由于高温搁置期间经过修补的负极SEI膜增厚与致密致使电池内阻增大.电池性能在80℃的变化归因于电解液的分解导致修补的SEI膜的不断生长.
会议网址http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_5608257.aspx
会议录第十二届中国固态离子学学术会议论文集
语种中文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/55931]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文
推荐引用方式
GB/T 7714
黄海江,解晶莹,张宏,等. 聚合物锂离子电池高温贮存后性能衰退研究[C]. 见:第十二届中国固态离子学学术会议. 2004.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_5608257.aspx.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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