SOI MOSFET热载流子效应的模拟研究
文献类型:会议论文
作者 | 林青 ; 朱鸣 ; 吴雁军 ; 张正选 ; 林成鲁 |
出版日期 | 2003 |
会议名称 | 第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会 |
会议日期 | 2003 |
关键词 | 热载流子效应 模拟研究 SOI MOS器件 器件模拟 |
中文摘要 | 本文对SOI MOS器件热载流子效应产生的机理进行了分析,并采用器件模拟的方法,对SOI NMOSFET和SOI PMOSFET的热载流子效应进行了研究分析. |
会议网址 | http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_5203758.aspx |
会议录 | 第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会论文集 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/55993] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 林青,朱鸣,吴雁军,等. SOI MOSFET热载流子效应的模拟研究[C]. 见:第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会. 2003.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_5203758.aspx. |
入库方式: OAI收割
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