纳米材料微结构的X射线衍射分析
文献类型:会议论文
作者 | 杨传铮 |
出版日期 | 2009 |
会议名称 | 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 |
会议日期 | 2009 |
关键词 | 纳米材料 微结构 X射线衍射 近似函数 方差分析 |
中文摘要 | 本文在简单评叙过去常用于金属材料中晶粒(嵌镶块)大小和微观应变的X射线衍射线形分析方法(分离微晶。微应变二重宽化效应的Fourier分析、方差分析和近似函数三种方法)之后,介绍了作者及合作者近年来发展和建立的分离微晶-微应变、微晶-层错、微应变-层错二重宽化效应和分离微晶-微应力-层错三重宽化效应的一般理论、最小二乘方法和计算程序系列。然后把这些方法用于评价各种典型纳米材料微结构的研究。它们包括:(1)贮氢合金MmB5;(2)面心立方结构纳米NiO的分析,获得微结构参数与热分解温度的关系;(3)体心立方结 |
会议网址 | http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199522.aspx |
会议录 | 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会论文集
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语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/56020] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨传铮. 纳米材料微结构的X射线衍射分析[C]. 见:第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会. 2009.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199522.aspx. |
入库方式: OAI收割
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