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纳米材料微结构的X射线衍射分析

文献类型:会议论文

作者杨传铮
出版日期2009
会议名称第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
会议日期2009
关键词纳米材料 微结构 X射线衍射 近似函数 方差分析
中文摘要本文在简单评叙过去常用于金属材料中晶粒(嵌镶块)大小和微观应变的X射线衍射线形分析方法(分离微晶。微应变二重宽化效应的Fourier分析、方差分析和近似函数三种方法)之后,介绍了作者及合作者近年来发展和建立的分离微晶-微应变、微晶-层错、微应变-层错二重宽化效应和分离微晶-微应力-层错三重宽化效应的一般理论、最小二乘方法和计算程序系列。然后把这些方法用于评价各种典型纳米材料微结构的研究。它们包括:(1)贮氢合金MmB5;(2)面心立方结构纳米NiO的分析,获得微结构参数与热分解温度的关系;(3)体心立方结
会议网址http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199522.aspx
会议录第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会论文集
语种中文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/56020]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文
推荐引用方式
GB/T 7714
杨传铮. 纳米材料微结构的X射线衍射分析[C]. 见:第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会. 2009.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_7199522.aspx.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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