Ni过渡层对Co/Cu/Co三明治膜微结构及巨磁电阻性能的影响
文献类型：会议论文
| 作者 | 李铁 ; 沈鸿烈 ; 沈勤我 ; 李冠雄 ; 邹世昌 |
| 出版日期 | 1999-02 |
| 会议名称 | 第五届全国STM学术会议论文集 |
| 会议日期 | 1999-02 |
| 中文摘要 | 本文利用原子力显微镜对具有不同厚度 Ni 过渡层的 Co 5．0nm/Cu 3．5nm/Co 5．0nm 三明治在各个制备阶段样品的表面形貌进行了系统的研究,并结合 X 射线衍射的结果,发现 Ni 过渡层可以使 Co/Cu/Co 三明治的界面平整,并形成强的(111)织构,从而导致材料的巨磁电阻值增大和矫顽力减少。电阻率的分析则表明过厚的 Ni 过渡层由于分流效应的存在会削弱材料的巨磁电阻值。 |
| 会议录 | 第五届全国STM学术会议论文集
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| 会议录出版者 | 中国电子显微镜学会 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/56650]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李铁,沈鸿烈,沈勤我,等. Ni过渡层对Co/Cu/Co三明治膜微结构及巨磁电阻性能的影响[C]. 见:第五届全国STM学术会议论文集. 1999-02. |
入库方式： OAI收割
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