相变存储器电学性能测试与存储性能演示系统研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 梁爽 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2008 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） |
| 导师 | 宋志棠 ; 刘波 ; 陈小刚 |
| 关键词 | 相变存储器 自动化测试 疲劳特性 VC++6.0 LabVIEW |
| 学位专业 | 微电子学与固体电子学 |
| 中文摘要 | 相变存储器是硫系化合物随机存储器,因其具有非易失性、速度快、功耗低、寿命长、与CMOS工艺兼容等优点成为最有可能替代传统存储器的下一代存储器之一。为了推动相变存储器的研究进程,其器件单元的电学和存储性能的表征是非常重要的,本论文主要开展了相变存储器器件单元测试系统和器件阵列演示系统的研制。 本文通过对相变存储器的器件原理、结构、电学性能分析,并综合利用目前现有测试手段,提出了一套相变存储器自动化测试系统的方案,主要包括相变存储器写擦操作与电压脉冲参数关系表征、相变存储器直流电学性能表征、相变存储器疲劳特性 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-06 |
| 页码 | 100 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/82858]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 梁爽 . 相变存储器电学性能测试与存储性能演示系统研究[D]. 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） . 2008. |
入库方式： OAI收割
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