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新型锁存射频微机械开关的设计与工艺研究

文献类型:学位论文

作者邢向龙  
学位类别硕士
答辩日期2005
授予单位中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  
导师王跃林 ; 焦继伟  
关键词RF MEMS 开关 锁存 插入损耗 隔离度  
学位专业微电子学与固体电子学  
中文摘要本论文提出一种结构新颖的静电驱动、电容旁路式RF MEMS开关,利用双端固支薄膜在大于临界应力时的翘曲原理实现锁存功能。其特点是,当没有控制电压作用时,开关保持原有状态,即可以实现常开、常闭功能。 首先,详细地讨论了器件的机械设计和电学设计。分析了氮化硅/金复合膜的横向翘曲特性。有限元分析表明驱动电压随薄膜和驱动电极的间距增加而指数增加,随应力增大而迅速增大。设计了特征阻抗为50Ω的有限宽地平面共面波导,讨论了其损耗特性。提出了开关的等效电学模型并计算得到等效电路参数。ADS模拟表明开关具有很低的插入损耗
语种中文
公开日期2012-03-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/82976]  
专题上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文
推荐引用方式
GB/T 7714
邢向龙  . 新型锁存射频微机械开关的设计与工艺研究[D]. 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  . 2005.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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