MMIC集成毫米波辐射计及其成像技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 关福宏 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2009 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） |
| 导师 | 孙晓玮 |
| 关键词 | MMIC集成辐射计 毫米波成像 微带渐变缝隙天线 |
| 学位专业 | 微电子学与固体电子学 |
| 中文摘要 | 结合国内外用于隐匿物品检测的毫米波成像技术研究发展应用情况，介绍了论文的研究背景和研制MMIC集成毫米波辐射计的重要性及前沿性。详细推导了零偏置型全功率直接检波接收机的灵敏度及其它主要性能参数表达式，指出采用零偏置型全功率辐射计具有更低的低频1/f噪声，有利于提高系统的灵敏度，确定了Ka波段辐射计及阵列扫描成像系统的设计参数指标。针对毫米波阵列成像系统需要的辐射计馈源天线，进行小型化、宽频带平面微带渐变缝隙天线研究。介绍了渐变缝隙天线的阶梯近似分析理论，采用皱褶边缘结构和在辐射缝隙加偶极子结构，优化辐射特 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-06 |
| 页码 | 109 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/83132]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 关福宏. MMIC集成毫米波辐射计及其成像技术研究[D]. 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） . 2009. |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。