高性能星载存储系统的容错技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 张宇宁 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2009 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） |
| 导师 | 杨根庆 |
| 关键词 | 星载大容量存储系统 单粒子效应 数据容错 闩锁检测与数据恢复 FPGA容错设计 |
| 学位专业 | 通信与信息系统 |
| 中文摘要 | 随着航天技术的快速发展，传统的航天级辐射加固器件难以满足空间应用日益增长的需求，高性能的商用器件受到更多的关注。同时，FPGA器件的性能越来越强大，使得将复杂的星载处理系统集成在一个芯片上成为可能。但是，器件的集成度越高，系统的功能越复杂，其受到空间辐射的单粒子效应的影响就越严重。 本文围绕高性能星载存储系统在单粒子效应影响下的可靠性问题，着重研究了包括存储阵列的冗余容错结构、数据容错技术、FPGA的应用层容错技术等。本文主要的创新性研究成果与贡献如下： 1：针对国内星载存储技术的不足，研究可扩展、可降级 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-06 |
| 页码 | 131 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/83158]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张宇宁. 高性能星载存储系统的容错技术研究[D]. 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所） . 2009. |
入库方式： OAI收割
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