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复合离子注入形成SOI结构及其结构和性能的研究

文献类型:学位论文

作者易万兵  
学位类别硕士
答辩日期2003
授予单位中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  
导师王曦 ; 陈猛  
关键词SOI SIMON Hydrogen Nitrogen Total-Dose effect Irradiation  
学位专业材料物理与化学  
中文摘要SOI(Silicon On Insulator)技术在军用、航天和商业领域都已取得突破性进展,但仍然存在一些问题。本论文主要研究氢氧共注入以降低SIMOX SOI圆片生产成本,和氮氧共注入形成新结构以提高抗总剂量辐照性能。 实验发现SIMOX SOI圆片的制备过程中引入氢离子,样品结构会产生比较大的变化。氢致缺陷的存在使成核速率变大,氢的存在加速氧的扩散速率,使得退火时氧的内扩散和外扩散同时增强,并促进氧沉淀的生长,从而导致埋层增厚。室温氢离子注入比高温注入增厚效应明显。实验中,我们得到了增厚10%的连
语种中文
公开日期2012-03-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/83264]  
专题上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文
推荐引用方式
GB/T 7714
易万兵  . 复合离子注入形成SOI结构及其结构和性能的研究[D]. 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  . 2003.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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