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镍氢电池的内压特性及其管理系统硬件设计

文献类型:学位论文

作者毛王君
学位类别硕士
答辩日期2011
授予单位中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  
导师宋志棠,娄豫皖
关键词超薄栅氧层 可靠性 界面态 导电机制 击穿机制  
学位专业微电子学与固体电子学
中文摘要随着CMOS器件尺寸的成比例缩小,作为存储介质的栅氧层的厚度也在不断的减小,栅漏电成为低功耗和便携用非易失性存储器和CMOS逻辑电路所面临的严峻问题。当栅氧层的厚度减小到3纳米以下时,无论从栅氧层的电学特性还是从其可靠性的角度来看,都出现一些新的现象。例如,多晶硅栅电极的耗尽效应(poly depletion effect)使得降落在栅氧层的有效电压减小,量子效应(quantum effect)更加明显,使得载流子分布不再符合传统的麦克斯韦统计分布规律。电容-电压(C-V)法提取的栅氧层电学厚度(elec
语种中文
公开日期2012-03-06
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/83606]  
专题上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文
推荐引用方式
GB/T 7714
毛王君. 镍氢电池的内压特性及其管理系统硬件设计[D]. 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  . 2011.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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