DETERMINATION OF INTERFACE COHERENCY BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION
文献类型：期刊论文
| 作者 | ZHU, NC ; LI, RS ; CHEN, JY ; XU, SS |
| 刊名 | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
 |
| 出版日期 | 1994 |
| 卷号 | 75期号:6页码:2805-2808 |
| 关键词 | EPITAXIAL LAYERS GAAS |
| ISSN号 | 0021-8979 |
| 通讯作者 | ZHU, NC, CHINESE ACAD SCI,SHANGHAI INST MET,SHANGHAI 200050,PEOPLES R CHINA |
| 学科主题 | Physics, Applied |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-25 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/98535]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文（1999年以前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | ZHU, NC,LI, RS,CHEN, JY,et al. DETERMINATION OF INTERFACE COHERENCY BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,1994,75(6):2805-2808. |
| APA | ZHU, NC,LI, RS,CHEN, JY,&XU, SS.(1994).DETERMINATION OF INTERFACE COHERENCY BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION.JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,75(6),2805-2808. |
| MLA | ZHU, NC,et al."DETERMINATION OF INTERFACE COHERENCY BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION".JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 75.6(1994):2805-2808. |
入库方式： OAI收割
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