X-ray diffraction characterization of the microstructure of close-packed hexagonal nanomaterials
文献类型：期刊论文
| 作者 | Pu, ZH ; Yang, CZ ; Qin, P ; Lou, YW ; Cheng, LF |
| 刊名 | POWDER DIFFRACTION
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| 出版日期 | 2008 |
| 卷号 | 23期号:3页码:213-223 |
| ISSN号 | 0885-7156 |
| 学科主题 | Materials Science, Characterization & Testing |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95009]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Pu, ZH,Yang, CZ,Qin, P,et al. X-ray diffraction characterization of the microstructure of close-packed hexagonal nanomaterials[J]. POWDER DIFFRACTION,2008,23(3):213-223. |
| APA | Pu, ZH,Yang, CZ,Qin, P,Lou, YW,&Cheng, LF.(2008).X-ray diffraction characterization of the microstructure of close-packed hexagonal nanomaterials.POWDER DIFFRACTION,23(3),213-223. |
| MLA | Pu, ZH,et al."X-ray diffraction characterization of the microstructure of close-packed hexagonal nanomaterials".POWDER DIFFRACTION 23.3(2008):213-223. |
入库方式： OAI收割
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