Microstructural properties of single crystalline PbTe thin films grown on BaF2(111) by molecular beam epitaxy
文献类型：期刊论文
| 作者 | Si, JX ; Wu, HZ ; Xu, TN ; Cao, CF ; Huang, ZC |
| 刊名 | CHINESE PHYSICS LETTERS
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 22期号:9页码:2353-2356 |
| 关键词 | HETEROEPITAXY BAF2 |
| ISSN号 | 0256-307X |
| 通讯作者 | Wu, HZ, Zhejiang Univ, Dept Phys, Hangzhou 310027, Peoples R China |
| 学科主题 | Physics, Multidisciplinary |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95349]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Si, JX,Wu, HZ,Xu, TN,et al. Microstructural properties of single crystalline PbTe thin films grown on BaF2(111) by molecular beam epitaxy[J]. CHINESE PHYSICS LETTERS,2005,22(9):2353-2356. |
| APA | Si, JX,Wu, HZ,Xu, TN,Cao, CF,&Huang, ZC.(2005).Microstructural properties of single crystalline PbTe thin films grown on BaF2(111) by molecular beam epitaxy.CHINESE PHYSICS LETTERS,22(9),2353-2356. |
| MLA | Si, JX,et al."Microstructural properties of single crystalline PbTe thin films grown on BaF2(111) by molecular beam epitaxy".CHINESE PHYSICS LETTERS 22.9(2005):2353-2356. |
入库方式： OAI收割
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