Characterization of thick HVPE GaN films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Nouet, G ; Ruterana, P ; Chen, J ; Lei, BL ; Ye, HH ; Yu, GH ; Qi, M ; Li, AZ |
| 刊名 | SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 36期号:4-6页码:417-424 |
| 关键词 | GROWTH |
| ISSN号 | 0749-6036 |
| 通讯作者 | Nouet, G, Inst Sci Mat & Rayonnement, ESCTM, CRISMAT, UMR CNRS 6508, 6 Blvd Marechal Juin, F-14050 Caen, France |
| 学科主题 | Physics, Condensed Matter |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95430]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Nouet, G,Ruterana, P,Chen, J,et al. Characterization of thick HVPE GaN films[J]. SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES,2004,36(4-6):417-424. |
| APA | Nouet, G.,Ruterana, P.,Chen, J.,Lei, BL.,Ye, HH.,...&Li, AZ.(2004).Characterization of thick HVPE GaN films.SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES,36(4-6),417-424. |
| MLA | Nouet, G,et al."Characterization of thick HVPE GaN films".SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES 36.4-6(2004):417-424. |
入库方式： OAI收割
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