Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Liu, B ; Song, ZT ; Zhang, T ; Feng, SL ; Chen, BM |
| 刊名 | CHINESE PHYSICS
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 13期号:11页码:1947-1950 |
| ISSN号 | 1009-1963 |
| 关键词 | TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY CRYSTALLIZATION BEHAVIOR THIN-FILMS MEMORY SPECTROSCOPY TRANSITIONS MEDIA SB |
| 通讯作者 | Liu, B, Chinese Acad Sci, Res Ctr Funct Semicond Film Engn Technol, State Key Lab Funct Mat Informat, Shanghai Inst Microsyst & Informat Technol, Shanghai 200050, Peoples R China |
| 学科主题 | Physics, Multidisciplinary |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95464]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, B,Song, ZT,Zhang, T,et al. Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films[J]. CHINESE PHYSICS,2004,13(11):1947-1950. |
| APA | Liu, B,Song, ZT,Zhang, T,Feng, SL,&Chen, BM.(2004).Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films.CHINESE PHYSICS,13(11),1947-1950. |
| MLA | Liu, B,et al."Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films".CHINESE PHYSICS 13.11(2004):1947-1950. |
入库方式： OAI收割
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