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Patterning of sp(3)- and sp(2)-bonded carbon by atomic-force microscopy

文献类型:期刊论文

作者Zhao, JP ; Chen, ZY ; Yu, YH ; Wang, X ; Shi, TS ; Wong, SP ; Wilson, IH ; Yano, T
刊名JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
出版日期2001
卷号89期号:7页码:3619-3621
关键词TETRAHEDRAL AMORPHOUS-CARBON SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY DIAMOND-LIKE CARBON FIELD-EMISSION THIN-FILMS
ISSN号0021-8979
通讯作者Zhao, JP, Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Met, Shanghai 200050, Peoples R China
学科主题Physics, Applied
收录类别SCI
语种英语
公开日期2012-03-24
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95683]  
专题上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Zhao, JP,Chen, ZY,Yu, YH,et al. Patterning of sp(3)- and sp(2)-bonded carbon by atomic-force microscopy[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,2001,89(7):3619-3621.
APA Zhao, JP.,Chen, ZY.,Yu, YH.,Wang, X.,Shi, TS.,...&Yano, T.(2001).Patterning of sp(3)- and sp(2)-bonded carbon by atomic-force microscopy.JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,89(7),3619-3621.
MLA Zhao, JP,et al."Patterning of sp(3)- and sp(2)-bonded carbon by atomic-force microscopy".JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 89.7(2001):3619-3621.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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