Electron spin resonance in doped nanocrystalline silicon films
文献类型:期刊论文
| 作者 | Liu, XN ; Xu, GY ; Sui, YX ; He, YL ; Bao, XM |
| 刊名 | SOLID STATE COMMUNICATIONS
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| 出版日期 | 2001 |
| 卷号 | 119期号:6页码:397-401 |
| 关键词 | CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION MICROCRYSTALLINE SILICON PHOTOLUMINESCENCE SIZE |
| ISSN号 | 0038-1098 |
| 通讯作者 | Liu, XN, Nanjing Univ, Natl Key Lab Solid State Microstruct, Dept Phys, Nanjing 210093, Peoples R China |
| 学科主题 | Physics, Condensed Matter |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95735] ![]() |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, XN,Xu, GY,Sui, YX,et al. Electron spin resonance in doped nanocrystalline silicon films[J]. SOLID STATE COMMUNICATIONS,2001,119(6):397-401. |
| APA | Liu, XN,Xu, GY,Sui, YX,He, YL,&Bao, XM.(2001).Electron spin resonance in doped nanocrystalline silicon films.SOLID STATE COMMUNICATIONS,119(6),397-401. |
| MLA | Liu, XN,et al."Electron spin resonance in doped nanocrystalline silicon films".SOLID STATE COMMUNICATIONS 119.6(2001):397-401. |
入库方式: OAI收割
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